納米級質控時代:立儀光譜共焦技術破解 3C 制造中的 mini LED 與屏幕檢測難題
當 3C 制造邁入 “納米級精度” 新紀元,消費者對屏幕顯示效果與設備輕薄化的極致追求,正倒逼制造環節升級 ——0.1 微米級質量控制已成為行業硬性指標。作為國產光譜共焦技術引領者,立儀光譜共焦傳感器憑借 A 系列、D 系列、E 系列產品的 50 納米重復精度及多材質適應性,成為 3C 行業質檢環節的 “終極武器”。本期將深入解析其三大經典應用案例,揭秘如何破解精密制造中的檢測難題。案例一:mini LED 點膠掃描 —— 破...
查看詳情