2020-04-10
光譜共焦的兩種測量模式是什么呢?光譜共焦測量技術(shù)通過分析不同波長光在特定表面的聚焦位置，實現(xiàn)高精度的尺寸測量和微觀形貌分析。根據(jù)這一測量原理，特定波長的光可以聚焦在樣品的前端，而對于透明材料樣品，兩種不同波長的光可以聚焦于樣品的正負(fù)兩面。下面深圳立儀光譜共焦廠家就與大家說說光譜共焦的兩種測量模式是什么：
1.厚度測量模式
在測量玻璃和透鏡等透明樣品時，兩束不同波長的光束聚焦于樣品的正負(fù)表面，引入樣品的折射率參數(shù)后，可以計算出樣品的厚度。與游標(biāo)卡尺等傳統(tǒng)的接觸測量工具相比，光譜共焦測量具有所有非接觸光學(xué)測量的優(yōu)點，并且具有通過單邊測量可以獲得樣品厚度的特點。
折射系數(shù)直接影響厚度測量數(shù)據(jù)的精度，因此在測量開始時要確定樣品的折射率，折射率可以指同一種材料的折射率，但如果要獲得較高精度的厚度測量結(jié)果，就需要用折射率儀來測量樣品的折射率。
2.位移測量模式
位移測量模式輸出Z方向的高度值，引入XY的位移后可以直接輸出點云坐標(biāo)。這一模式與三坐標(biāo)、結(jié)構(gòu)光和激光三角測量方法一致。不同的是光譜共焦支持反射表面的測量，具有亞微米測量精度。
位移測量模式適用于大多數(shù)精密尺寸測量場景，為點、線、面測量提供了多種采樣選擇。點測量適合于測量物體振動和液體高度，輸出不同時間序列的Z方向值以輔助分析。直線測量可以連續(xù)記錄移動樣本表面的Z方向值，可用于故障差檢測和二維尺寸分析。表面測量提供了完整的樣品表面三維形貌數(shù)據(jù)，可進(jìn)行全面分析，包括粗糙度和其他項目。
這就是光譜共焦的兩種測量模式的介紹說明。光譜共焦的兩種測量方式可以在軟件界面上自由切換，而無需重新啟動設(shè)備或系統(tǒng)。因此，無論是樣品表面尺寸測量、透明材料厚度測量，還是同時獲取透明樣品的外觀尺寸和厚度信息，光譜共焦測量技術(shù)都可以冷靜地處理。深圳立儀科技有限公司一家專業(yè)生產(chǎn)銷售位移傳感器,激光位移傳感器,角度位移傳感器,光譜共焦傳感器的公司，有需要的朋友們可來電咨詢立儀光纖同軸位移傳感器廠家。歡迎您的來電!
